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韩国科学技术院(KAIST)科研团队开发出一种超高速照相测量技术,通过将脉冲宽度为100飞秒(1/1000万亿分之一秒)的光脉冲分成大约1000种颜色,并使用不同颜色的脉冲来精确测量像素之间的高低差,在0.26GPixel/S像素填充率下的测量精度为330pm,能够捕捉到半导体元器件中的微观运动和结构,有助于探索此前从未观察到的复杂物理现象。

科研团队表示,该测量技术仅需3.47ms即可测量分辨率为1024x882像素、宽度为6.4mm、高度为2.4mm的区域,下一步将继续优化提高该技术的检测速度。此项研究成果发表在国际期刊《Light:Science and Application》上。

本文摘自国外相关研究报道,文章内容不代表本网站观点和立场,仅供参考。

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